Простий пошук
Розширений пошук
Алфавітні покажчики

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Віртуальна довідка
Тематичний інтернет-навігатор
Наукова електронна бібліотека
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (1)
Пошуковий запит: (<.>A=Plyuto I$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 7
Представлено документи з 1 до 7
      
Категорія:    
1.

Plyuto I. V. 
A sphere model for quantitative XPS analysis of supported catalysts: systems with a low specific surface area = Сферична модель для кількісного аналізу нанесених каталізаторів методом РФС: системи з низькою питомою поверхнею / I. V. Plyuto, A. P. Shpak // Укр. фіз. журн. - 2001. - 46, № 9-10. - С. 991-994. - Библиогр.: 4 назв. - англ.

A sphere model for quantitative analysis of supported catalysts with a low specific surface area by X-ray photoelectron spectroscopy method is developed. New method for estimation of particle size, surface coverage and the surface'density of promoter particles is proposed.


Індекс рубрикатора НБУВ: Г544.32

Рубрики:
 Каталізатори (контакти). Інгібітори 

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 
      
Категорія:    
2.

Plyuto I. V. 
Quantitative XPS analysis of disperse systems: modelling of mixed systems / I. V. Plyuto, A. P. Shpak // Укр. фіз. журн. - 2001. - 46, № 10. - С. 1094-1096. - Библиогр.: 4 назв. - англ.

A mathematical formalism for modelling of mixed systems is developed. A method for quantitative analysis of XPS intensities for a mixed systems consisting of two types of spherical particles is presented.


Індекс рубрикатора НБУВ: В343.13

Рубрики:
 Квантова теорії світла. Квантова оптика 

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 
      
Категорія:    
3.

Plyuto I. V. 
Quantitative analysis of disperse heterogeneous systems by X-ray photoelectron spectroscopy = Кількісний аналіз дисперсних гетерогенних систем методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії / I. V. Plyuto, A. P. Shpak; Nat. Acad. of sciences of Ukraine, G.V.Kurdjumov Inst. of metal phys. - K. : Academperiod., 2001. - 95 p. c. - Библиогр.: 139 назв. - англ.


Індекс рубрикатора НБУВ: Г66-5

Рубрики:
 Грубодисперсні системи 

Шифр НБУВ: ІВ200860 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
4.

Plyuto I. V. 
A shell model for quantitative XPS analysis of supported catalysts: systems with a low specific surface area = Модель оболонок для кількісного аналізу нанесених каталізаторів методом РФС: системи з низькою питомою поверхнею / I. V. Plyuto, A. P. Shpak // Укр. фіз. журн. - 2001. - 46, № 11. - С. 1163-1166. - Библиогр.: 4 назв. - англ.

Розроблено модель оболонок для кількісного аналізу нанесених систем з низькою питомою поверхнею методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії. Запропоновано нову методику розрахунку розмірів поверхневих кластерів, ступеня заповнення поверхні та поверхневої щільності частинок нанесеної фази.


Індекс рубрикатора НБУВ: Г582

Рубрики:
 Поверхневі шари та їх властивості 

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 
      
Категорія:    
5.

Plyuto I. V. 
A shell model for quantitative XPS analysis of supported catalysts: systems with a high specific surface area / I. V. Plyuto, A. P. Shpak // Доп. НАН України. - 2002. - № 3. - С. 84-90. - Бібліогр.: 4 назв. - англ.

Розроблено модель сферичних оболонок для кількісного аналізу нанесених систем з малою питомою поверхнею методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії. Запропоновано нову методику розрахунку розмірів поверхневих кластерів, ступеня заповнення поверхні та поверхневої густини частинок нанесеної фази.


Індекс рубрикатора НБУВ: В251.649.1в734.5

Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ 
      
Категорія:    
6.

Plyuto I. V. 
Quantitative XPS analysis of disperse systems: modelling of mixed systems / I. V. Plyuto, A. P. Shpak // Доп. НАН України. - 2002. - № 1. - С. 85-90. - Бібліогр.: 4 назв. - англ.

Розроблено модель для кількісного аналізу систем з великою питомою поверхнею, які складаються зі сферичних частинок двох різних типів методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії. Запропоновано методику розрахунку розмірів частинок певного типу, якщо відомо середній розмір частинок іншого типу.


Індекс рубрикатора НБУВ: В344-1

Рубрики:
 Спектроскопія 

Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ 
      
Категорія:    
7.

Plyuto I. V. 
A sphere model for quantitative XPS analysis of supported catalysts: systems with a high specific surface area / I. V. Plyuto, A. P. Shpak // Доп. НАН України. - 2002. - № 2. - С. 93-98. - Бібліогр.: 4 назв. - англ.

Розроблено сферичну модель для кількісного аналізу нанесених систем з великою питомою поверхнею методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії. Запропоновано нову методику розрахунку розмірів поверхневих кластерів, ступеня заповнення поверхні та поверхневої густини частинок нанесеної фази.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.8 + Г582

Рубрики:
 Кластери в твердих тілах 
 Поверхневі шари та їх властивості 

Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ 
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського